■ 主な仕様

J200外観
（LWH：635mm×685.8mm×673.1mm）

1. 標準構成にてレーザーアブレーション装置としてもLIBSとしても使用できます。
2. Q-switchedフラットトップ型Nd-YAGレーザー —Femto秒レーザー（オプション）も対応可能です。
3. レーザー波長は213nm、266nm、532nm、1064nmから選択可能。—532nm、1064nmはLIBS用の仕様となります。
4. 3種類のLIBS検出器（2つまで選択可能）
   —Scanning Czerny Turner 分光器/ICCD検 出器（測定波長190nm〜900nm）
   —Echelle 分光器/ICCD検出器（測定波長190nm〜900nm）
   —マルチチャンネルCCD検出器（3channel 〜 6channel、測定波長190nm〜1040nm）

J200、2検出器タイプ
（LWH：1,117.6mm×685.8mm×673.1mm）

レーザー照射面を均一に保つ自動サンプル高さ調整システム

■ ソフトウェア“Axiom LA”

アブレーションエリアの決定、アブレーションパラメータの設定、保存、LIBS結果の解析、データベースマッチング、測定結果のデータベース化、ICP-MSからのデータ取り込み、解析を一つのパッケージにて実現。

LA-ICP-MSからの時間分解シグナルの取り込み、解析が可能

■ アプリケーション例（一部）

1. 岩石の元素組成によるフィンガープリント
2. ガラス粉の分析
3. 半導体リードフレームの分析

＊弊社ではこれらの他にも、多数のアプリケーションノートをご用意しています。
　詳しくは G5@hakuto.co.jp までお問合せください。